暗室方案配置

电磁兼容性问题

一、仪器购置的必要性
      随着电子产品的复杂性的增加，包括工作频率的不断提高，小型化程度的增加，混合电路的应用等，使得电磁兼容方面的问题越来越突出。一方面产品在国家标准检测时不容易一次过关，另一方面产品本身受到电磁兼容的影响而使得其功能不稳定，甚至功能失效等困难。
      在电磁兼容问题面前，由于目前缺少相应的调试设备，再加上工程师普遍对电磁兼容的设计和调试没有成熟和丰富的经验，所以，目前我们对电磁兼容的调试存在着比较大的困难。目前，基本上是比较盲目的凭经验在进行电磁兼容的设计和调试。随着所以产品的复杂度增加，问题将越来越明显，我们认为，有一套方便的调试设备是很有必要的。
      国家对电子产品的电磁兼容性要求也越来越高了，我公司主要是从事医疗设备产品的研究和开发，目前，国家食品药品监督管理局已经通过了*产品的EMC标准——YY0505－2005标准，该标准规定了医用电气设备的特殊的电磁兼容要求（发射或抗扰度）以及详细的测量程序，并自2007年4月1日起强制实施。为了满足客户和国家的标准要求，引进一套电磁兼容测试诊断工具，是从实际需求出发，既符合相关要求，又满足设计需要。
二、可行性分析
      现代电子产品的设计概念是“及早排除可能的隐患，*次就把工作做好”。电磁兼容性工作已经逐步从事后检测处理发展到预先分析评估、预先检验、预先设计，即在方案设计阶段就有针对性的开展预测分析工作,把过去用于研制后期试验测量和处理以及返工补救的费用，安排到加强事前设计和预测检验中来。但是如何才能实现这一目标呢？
一般来说，一个产品的研发包括以下几个阶段：
¨  设计前期：建立基本构想，确定系统的性能指标，进行方案的总体设计；
¨  设计期：进入方案实施阶段，包括原理图设计与PCB板图设计；
¨  调试期：进行样机调试，发现问题并对设计进行修改；
¨  验证期：进行各种检验测试认证工作，以确保系统达到设计要求。
¨  系统联调期：确保系统与系统能正常协同工作。
目前，市场上用于解决电磁兼容性问题的工具主要集中在以下几个方面：
1．  设计早期阶段的软件仿真，及早进行EMC设计，并排除发生潜在的电磁辐射问题。
2．  调试过程中故障的诊断、定位和分析。
3．  标准测试前的电磁兼容预测试。
      总之，根据自身情况并结合产品的特点，在从开发期到*终定型以及到系统联调等的不同阶段采取适当的工具、方法及设备，将电磁兼容设计容入整个设计过程就会取得事半功倍的效果。
三、解决方案
      YY0505-2005（IEC60601-1-2 Ed.2）标准针对医用电气设备规定了的特殊的电磁兼容要求（发射或抗扰度）以及详细的测量程序，其引用的主要标准为：
Ø    发射（Emission）:
GB 4824 (CISPR11)  工、科、医（ISM）射频设备电磁骚扰特性限值和测量方法；
GB 17625.1  (IEC61000-3-2)  谐波电流发射限值的测试；
GB 17625.2  (IEC61000-3-3) 电压波动和闪烁的限值的测试；
Ø    抗扰度（Immunity）：
GB 17626.2 (IEC61000-4-2)   静电放电（ESD）抗扰度的试验；
GB 17626.3 (IEC61000-4-3)   辐射（射频）电磁场抗扰度试验；
GB 17626.4 (IEC61000-4-4)   电快速瞬变／脉冲群抗扰度试验；
GB 17626.5 (IEC61000-4-5)   浪涌（冲击）抗扰度试验；
GB 17626.6 (IEC61000-4-6 )   对射频场感应的传导骚扰抗扰度试验；
GB 17626.8 (IEC61000-4-8)   工频磁场抗扰度试验；
GB 17626.11 (IEC61000-4-11)  电压暂降、短期中断和电压变化抗扰度试验。
*项：发射测试
1． 工、科、医（ISM）射频设备电磁骚扰特性限值和测量方法
参考标准：GB/T 4824-2001   CISPR 11-1997
标准要求：本标准规定了工业、科学和医疗（ISM）设备和电火花腐蚀设备的电磁骚扰特性的限值和测量方法。
辐射发射测试（GB 4824/CISPR11）——标准要求在暗室或开阔场进行测试
GB 4824（CISPR11）标准要求使用一个宽带天线测量从产品辐射到空间中的RF能量的水平，理想情况下，该测试应该在一个开阔场或等效的环境下进行测试。没有校准的测试场所将要求使用一个ERS量化测试场所的失真。频率范围30MHz到1000MHz。测试框图如下：
      准测试方法只能给出产品是否符合标准，而对于分析辐射发射的原因和解决方案却无能为力。而近场测量却可以给产品开发者提供关于辐射干扰原因的重要数据，基于这些数据，你可以采取相应的措施来减少这些辐射。EMCP系列近场探头组包括多种特制的近场探头，用于直接对电子模块所产生的高频电磁场进行近场测量，以帮助减少辐射干扰。PA系列前置放大器十分适用于这些近场探头，它使利用非常小的探头进行测量成为可能，而且同时可以保持高的灵敏度。
配置内容：
 

序号	产品型号	产品描述	数量	价格(US$)
1	E4421B	信号源，250KHz –3GHz	1
2	150W1000C	功率放大器，80 M-1000 M、150 Watts	1
3	25S1G4A	功率放大器，0.8GHz—4.2GHz (25W)	1
4	E4419B	双通道功率计(含功率头)	1
5	DC6180A	双定向耦合器，80 MHz到1GHz、600 Watts	1
6	DC7128	双定向耦合器，800 MHz到2.8 GHz	1
7	EMR300	场强仪	1
8	场强探头	10K-3Ghz、800V/m	1
9	SAS-521-4	双逻辑天线，25MHz—4GHz	1	共用
10	ATU-510	木质三脚架	1	共用
11	AEH-510	方位角和海拔头	1	共用